真理光學(xué)技術(shù)團(tuán)隊具有超過二十年粒度表征及應(yīng)用開發(fā)的經(jīng)驗，曾研發(fā)出一臺商用激光粒度分析儀。LT3600系列和LT2200系列是真理光學(xué)基于多年的科研成果并融合多項專利技術(shù)開發(fā)的新一代超高速智能激光粒度分析系統(tǒng)，為全球激光粒度分析行業(yè)樹立了新標(biāo)桿。LT3600系列和LT2200系列粒度儀被廣泛用于磨料，制藥，化工，電池材料，地質(zhì)，水文等行業(yè)的顆粒粒度表征分析。 針對電池材料行業(yè)用戶的電池材料粒度粒形檢測需求，真理光學(xué)開發(fā)的新一代LT系列激光粒度儀加持了如下技術(shù)研究成果： （1）發(fā)現(xiàn)愛里斑的反常變化（ACAD）規(guī)律及其對粒度測量的影響，解決了ACAD現(xiàn)象對光能數(shù)據(jù)反演的干擾。 （2）獨創(chuàng)的偏振空間濾波技術(shù) （3）斜置梯形窗口技術(shù)。 （4）統(tǒng)一的散射光能反演算法，免除了用戶必須選擇反演模式，而不同模式有不同結(jié)果的困擾。 （5）分散系統(tǒng)雙電機(jī)驅(qū)動及液位連續(xù)監(jiān)控。 為電池材料粒度粒形測試提供可靠保證和穩(wěn)定數(shù)據(jù)支撐。
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